Bruker Dimension Fastscan-Icon
Especificações Técnicas:
Microscópio de varredura por sonda, que opera em modos: Contato; Contato intermitente; Fase; Não-contato; Força lateral; “PeakForce”, Mapeamento Nanomecânico; “Lift Mode”, “Force Volume”, MFM (Microscopia de Força Magnética), EFM (Microscopia de Força Eletrostática), Espectroscopia de Força e Piezo-resposta. A interação da sonda com uma superfície permite mapear algumas propriedades da amostra, tais como: topografia, adesão, elasticidade, propriedades magnéticas e elétricas.
