FEI QUANTA 250
Especificações Técnicas:
Microscópio eletrônico de varredura da FEI (Thermo Fisher). Opera com voltagem de aceleração de elétrons entre 1 e 30 kV e possui detectores de elétrons secundários e retroespalhados. Este equipamento é capaz de trabalhar em alto vácuo (10-2 a 10-4 Pa), em baixo vácuo (10 a 130 Pa) ou em modo ambiental (10 a 400 Pa), permitindo o usuário observar amostras de materiais não-condutores e/ou hidratados. Seu porta-amostra com estágio de resfriamento Peltier possibilita analisar amostras pouco condutoras e sensíveis, minimizando os danos térmicos do feixe de elétrons. Possui também um detector de raios-X EDS (EDAX) para microanálise e mapeamento de elementos.
THERMO FISHER QUATTRO S
Especificações Técnicas:
Microscópio eletrônico de varredura Thermo Fisher Scientific (Quattro S). Opera com aceleração voltagem de elétrons entre 1 e 30 kV, possui detectores de elétrons secundários, retroespalhados e detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS). A coluna de elétrons possui fonte do tipo FEG (canhão de emissão de campo) que produz um feixe de elétrons altamente coerente e com alto brilho. Possui sistema de desaceleração do feixe, que garante o uso em baixíssimas voltagens (< 1 kV), o que possibilita a obtenção de imagens de alta resolução, com até 4.0 nm. O equipamento é capaz de trabalhar em alto vácuo (10-2 a 10-4 Pa), em baixo vácuo (10 a 200 Pa) ou em modo ambiental (2600 Pa a 4000 Pa). Para observação, as amostras podem ser preparadas de forma tradicional, secas e metalizadas ou é permitido a observação em materiais em seu estado nativo, com materiais não-condutores e/ou hidratados. O detector de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) com microanálise de elementos identifica a composição química dos elementos e mapeia em cores de forma rápida a partir das imagens de varredura..
ZEISS EVO MA10
Especificações Técnicas:
Microscópio eletrônico de varredura da Zeiss. Opera com voltagem de aceleração de elétrons entre 1 e 30 kV e possui um detector de elétrons secundários Everhart-Thornley e um detector de elétrons retroespalhados. Este equipamento é capaz de trabalhar em alto vácuo (10-2 a 10-5 Pa) ou em modo de pressão variável (10 a 400 Pa), ou VP, permitindo o usuário observar amostras de materiais não-condutores e/ou hidratados. No modo de VP, utiliza-se o detector do tipo LFD (do inglês Large Field Detector)
ZEISS FIB-SEM AURIGA 40
Especificações Técnicas:
Microscópio eletrônico de varredura alta resolução e duplo-feixe (FIB-SEM) possui duas colunas: uma coluna principal de elétrons (GEMINI) e uma de íons focalizados (COBRA), um sistema de injeção de gases (GIS) e dois nanomanipuladores. A coluna de elétrons possui uma fonte do tipo FEG (Field Emission Gun) que produz um feixe de elétrons altamente coerente e com alto brilho, o que possibilita o uso de baixíssimas voltagens (0.5 a 2.0 kV) para realizar imagens de alta resolução ( 3.0 nm). A coluna de íons focalizados possui uma fonte de gálio que produz um feixe de íons (FIB) utilizado principalmente para cortes com grande precisão, além de outras funcionalidades. O sistema de injeção de gases possui 5 canais para ensaios específicos e in-situ, sendo quatro deles de N2, C, XeF2 e Pt. Os 2 nanomanipuladores (Kleindiek) possuem 5 graus de liberdade, o que facilita o manuseio da lamela preparada. O Microscópio está equipado com 2 detectores de elétrons secundários, sendo um para imagens convencionais (Everhart-Thornley) e um para imagens de ultra-alta resolução (In-lens); 2 detectores para elétrons retroespalhados, sendo um detector de estado sólido retrátil (NTS BSD) e um para elétrons retroespalhados de baixa energia (ESB); e 1 detector para visualização em modo STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). O duplo-feixe (FIB-SEM) permite a realização de séries tomográficas utilizando uma sequência de cortes ultrafinos e sua visualização, técnica denominada slice and view. Adicionalmente, o microscópio possui o sistema Atlas 3D (FIBICS) que permite a aquisição de tomografias em grandes volumes, pois possui funcionalidades de auto-ajustes durante a aquisição da série tomográfica; além disso, o ATLAS possibilita a aquisição de imagens em mosaico por tile and stitch. O microscópio possui, ainda, um crioestágio que permite a operação em temperaturas criogênicas, em torno de -196 C, que possibilita o imageamento de amostras criofixadas (cryo-SEM) e a confecção de crio-lamelas para tomografia crioeletrônica.
